Testador de circuitos integrados lógicos
Circuitos integrados lógicos são pequenas peças que compõe um circuito lógico maior. O defeito em uma dessas peças é quase sempre imperceptível e uma peça defeituosa, mesmo que parcialmente, impede o funcionamento de todo o experimento. Com a introdução de uma nova disciplina no laboratório LF-25, c...
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| Main Author: | |
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| Format: | Online |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
2016
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://econtents.sbu.unicamp.br/eventos/index.php/simtec/article/view/11053 |
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| Summary: | Circuitos integrados lógicos são pequenas peças que compõe um circuito lógico maior. O defeito em uma dessas peças é quase sempre imperceptível e uma peça defeituosa, mesmo que parcialmente, impede o funcionamento de todo o experimento. Com a introdução de uma nova disciplina no laboratório LF-25, criou-se a necessidade de desenvolver alguma forma rápida e confiável de testar estes circuitos integrados. O testador é baseado em um microcontrolador Arduino. O circuito integrado a ser testado é ligado o microcontrolador e este se comunica via USB com um microcomputador, onde são apresentados os resultados dos testes e configurações. O Arduino realiza uma bateria de testes programados e caso alguma das portas do circuito integrado esteja defeituosa o teste é repetido. Depois de feita a programação base do testador, foi apenas uma questão de introduzir os testes de cada tipo de circuito integrado. A velocidade do teste feito pelo Arduino é extremamente rápida, sendo a velocidade do teste como um todo limitado apenas pela troca dos circuitos integrados. Por ser de fácil programação, o Arduino permite que novos testes sejam introduzidos e aprimorados, acrescentando dinamismo ao testador. A comunicação USB permite a apresentação de um relatório detalhado no microcomputador e interface com o usuário. A certeza do funcionamento dos circuitos integrados permite que os experimentos sejam mais rápidos e que o foco da aula seja no resultado obtido e não nos problemas encontrados. |
|---|---|
| ISSN: | 2525-5398 |
