Leis de escala e dimensão fractal em filmes finos: microscopia de força
Neste trabalho, superfícies de filmes finos usados como eletrodos são analisadas por duas técnicas diferentes: Voltametria Cíclica e Microscopia de Força Atômica. A partir de um exemplo da literatura, a dimensão fractal da superfície de filmes de óxido de índio e óxido fluoreto de estanho são obtida...
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| Main Author: | |
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| Format: | Online |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
Universidade Estadual de Campinas
2000
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://econtents.sbu.unicamp.br/inpec/index.php/physicae/article/view/13477 |
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| Summary: | Neste trabalho, superfícies de filmes finos usados como eletrodos são analisadas por duas técnicas diferentes: Voltametria Cíclica e Microscopia de Força Atômica. A partir de um exemplo da literatura, a dimensão fractal da superfície de filmes de óxido de índio e óxido fluoreto de estanho são obtidas por estas duas técnicas e os resultados mostrados como concordantes entre si. Isto torna tais técnicas complementares no estudo destes filmes que podem ser aplicados em diversos dispositivos tecnológicos. |
|---|---|
| ISSN: | 1679-9569 |
