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Leis de escala e dimensão fractal em filmes finos: microscopia de força

Neste trabalho, superfícies de filmes finos usados como eletrodos são analisadas por duas técnicas diferentes: Voltametria Cíclica e Microscopia de Força Atômica. A partir de um exemplo da literatura, a dimensão fractal da superfície de filmes de óxido de índio e óxido fluoreto de estanho são obtida...

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Bibliographic Details
Main Author:	Cruz, Tersio G. Souza
Format:	Online
Language:	Portuguese
Published:	Universidade Estadual de Campinas 2000
Subjects:	Voltametria Microscopia Física Voltammetry Microscopy Physics
Online Access:	https://econtents.sbu.unicamp.br/inpec/index.php/physicae/article/view/13477
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