Um estudo realizado em filmes finos amorfos de v2 o5 e fevo4 utilizando luz síncrotron
O objetivo deste trabalho foi realizar um estudo utilizando Luz Sincrotron em filmes amorfos de V2 O5 e FeVO4 submetidos à inserção de íons Li+ . Utilizamos a técnica de análise por Espectroscopia de Absorção de Raios-X (XAS) com o objetivo de entender qual a correlação entre os mecanismos de inserç...
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| Main Authors: | , |
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| Format: | Online |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
2016
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://econtents.sbu.unicamp.br/eventos/index.php/simtec/article/view/9093 |
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| Summary: | O objetivo deste trabalho foi realizar um estudo utilizando Luz Sincrotron em filmes amorfos de V2 O5 e FeVO4 submetidos à inserção de íons Li+ . Utilizamos a técnica de análise por Espectroscopia de Absorção de Raios-X (XAS) com o objetivo de entender qual a correlação entre os mecanismos de inserção e remoção dos íons de lítio no material com a estrutura e o estado de oxidação dos átomos de vanádio e ferro presentes no composto. Foram preparadas amostras de filmes de FeVO4 , e por comparação com amostras de V2 O5 , foi realizado um estudo do comportamento do estado de oxidação dos átomos de V e de Fe em amostras nas condições “como depositadas” e quando submetidas à intercalação e deintercalação de Li. Como conclusão foi observado que tanto no V2 O5 quanto no FeVO4 , o átomo de V reduz de um estado V(V) para V(IV) no composto intercalado de Li. O átomo de Fe em FeVO4 reduz de um estado Fe(III) para Fe(II) quando intercalado de Li+ . Não houve maior redução de estados devido ao baixo grau de intercalação das nossas amostras. Sugerimos também que as pequenas mudanças observadas nos pré-picos das amostras FeVO4 comparativamente às amostras de V2 O5 , devem explicar a boa estabilidade estrutural e conseqüentemente eletroquímica do FeVO4 . |
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| ISSN: | 2525-5398 |
