Um estudo realizado em filmes finos amorfos de v2 o5 e fevo4 utilizando luz síncrotron

O objetivo deste trabalho foi realizar um estudo utilizando Luz Sincrotron em filmes amorfos de V2 O5 e FeVO4 submetidos à inserção de íons Li+ . Utilizamos a técnica de análise por Espectroscopia de Absorção de Raios-X (XAS) com o objetivo de entender qual a correlação entre os mecanismos de inserç...

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Bibliographic Details

Main Authors:	Lourenço, Airton, Watanabe, J. N.
Format:	Online
Language:	Portuguese
Published:	Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) 2016
Subjects:	Filmes finos Intercalação eletroquímica V2 O5 FeVO4 Filmes finos amorfos
Online Access:	https://econtents.sbu.unicamp.br/eventos/index.php/simtec/article/view/9093
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