Estudo de traços de partículas alfa em detetores cr-39 utilizando-se microscopias de força atômica, eletrônica de varredura e óptica

O objetivo deste trabalho é o estudo das propriedades dos traços de partículas alfa em detetores do tipo CR-39. As diferentes técnicas usadas para análise foram Microscopia de Força Atômica (MFA), Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e Microscopia Óptica (MO). Os diâmetros dos traços foram medi...

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Bibliographic Details

Main Authors:	Iunes, Pedro J., Palissari, Rosane, Hadler, Julio C.
Format:	Online
Language:	Portuguese
Published:	Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) 2016
Subjects:	Traços alfa CR-39 MFA MEV Espectrometria alfa Microscopia óptica Estudo de traços
Online Access:	https://econtents.sbu.unicamp.br/eventos/index.php/simtec/article/view/10339
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