Estudo de traços de partículas alfa em detetores cr-39 utilizando-se microscopias de força atômica, eletrônica de varredura e óptica
O objetivo deste trabalho é o estudo das propriedades dos traços de partículas alfa em detetores do tipo CR-39. As diferentes técnicas usadas para análise foram Microscopia de Força Atômica (MFA), Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e Microscopia Óptica (MO). Os diâmetros dos traços foram medi...
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| Format: | Online |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
2016
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| Subjects: | |
| Online Access: | https://econtents.sbu.unicamp.br/eventos/index.php/simtec/article/view/10339 |
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| Summary: | O objetivo deste trabalho é o estudo das propriedades dos traços de partículas alfa em detetores do tipo CR-39. As diferentes técnicas usadas para análise foram Microscopia de Força Atômica (MFA), Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e Microscopia Óptica (MO). Os diâmetros dos traços foram medidos por estas técnicas sob diferentes tempos de ataque químico (condições do ataque foram 6.25 M NaOH à 70°C). Os únicos traços considerados foram aqueles com incidência normal e suas profundidades foram medidas por MFA. Os diâmetros dos traços foram estimados por extrapolação da curva de ataque químico. Considerou-se um modelo geométrico simplificado para a evolução do traço com o tempo de ataque e pode-se estudar a função resposta, que caracteriza o defeito estrutural local causado pela partícula e todos os parâmetros associados com o ataque químico. Além disso, foram feitas comparações entre todas as técnicas e a diferenciação entre traços e defeitos. |
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| ISSN: | 2525-5398 |
